1. 額定零功率電阻
PPTC熱敏電阻應(yīng)按零功率電阻封裝，電阻范圍應(yīng)在外封裝上標(biāo)明。經(jīng)過耐壓和耐電流測試，每組樣品在自身之前的電阻變化率極差δ|Ri后Ri之前/Ri之前-（Rj后Rj之前）/Rj之前|≤100%
2. PTC效應(yīng)
說一種材料具有PTC（正溫度系數(shù)）效應(yīng)意味著材料的電阻會隨著溫度的升高而增加。例如，大多數(shù)金屬材料都具有PTC效應(yīng)。在這些材料中，PTC效應(yīng)表現(xiàn)為電阻隨溫度升高而線性增加，這通常稱為線性PTC效應(yīng)。
3. 非線性PTC效應(yīng)
經(jīng)歷相變的材料將表現(xiàn)出電阻在幾個到十個數(shù)量級的狹窄溫度范圍內(nèi)急劇增加的現(xiàn)象，即非線性PTC效應(yīng)。許多類型的導(dǎo)電聚合物表現(xiàn)出這種效應(yīng)，例如聚合物PTC熱敏電阻。這些導(dǎo)電聚合物對于制造
過流保護裝置非常有用。
4. 最小電阻（Rmin）/最大電阻（Rmax）
在指定的環(huán)境溫度下，例如25°C，在安裝自恢復(fù)之前，電路中特定類型的聚合物熱敏電阻的電阻值將在指定范圍內(nèi)，即在Rmin和Rmax之間。該值列在規(guī)范的電阻列中。
5. 保持電流保持
保持電流是聚合物
PTC可復(fù)位保險絲保持非活動狀態(tài)時可以通過的最大電流。在有限的環(huán)境條件下，該器件可以無限期地保持，而不會從低電阻狀態(tài)變?yōu)楦唠娮锠顟B(tài)。
6. 行動電流
它是最小穩(wěn)態(tài)電流，使可復(fù)位保險絲系列聚合物熱敏電阻能夠在有限的環(huán)境條件下在有限的時間內(nèi)運行。
7. 最大電流Imax（電流承受值）
它是聚合物
PTC可復(fù)位保險絲在有限狀態(tài)下安全運行的最大工作電流，即
熱敏電阻的電流承受值。超過此值，
熱敏電阻可能會損壞并且無法恢復(fù)。該值列在規(guī)范的電流承受列中。
8. 漏電流
當(dāng)聚合物PTC可復(fù)位保險絲鎖定在其高電阻狀態(tài)時，它的電流流過熱敏電阻。
9. 最大工作電流/正常工作電流
這是正常工作條件過電路的最大電流。在電路的最高環(huán)境溫度下，用于保護電路的聚合物PTC可復(fù)位保險絲的保持電流通常大于工作電流。
10. 行動
當(dāng)發(fā)生過電流或環(huán)境溫度升高時，聚合物 PTC 可復(fù)位保險絲從低電阻變?yōu)楦唠娮琛?/div>
11.操作時間
從過流發(fā)生到動作完成的時間。對于任何特定的聚合物PTC可復(fù)位保險絲，流過電路的電流越大，或者工作環(huán)境溫度越高，動作時間越短。
12.最大電壓（耐壓值）
它是聚合物PTC可復(fù)位保險絲在有限條件下可以安全承受的最高電壓，即熱敏電阻的耐壓。超過此值，熱敏電阻可能會被擊穿，無法恢復(fù)。該值通常列在規(guī)格的耐壓欄中。
13.最大工作電壓
這是聚合物 PTC 可復(fù)位保險絲兩端在正常工作條件下的最大電壓。在許多電路中，它相當(dāng)于電路中電源的電壓。
14.導(dǎo)電聚合物
這里是指用絕緣高分子材料（聚烯烴、環(huán)氧樹脂等）填充導(dǎo)電顆粒（炭黑、碳纖維、金屬粉末、金屬氧化物等）制成的導(dǎo)電復(fù)合材料。
15.環(huán)境溫度
熱敏電阻或帶有熱敏電阻元件的電路周圍的靜止空氣溫度。
16.工作溫度范圍
P元件可以安全工作的環(huán)境溫度范圍。
17.最高工作環(huán)境溫度
組件預(yù)期安全工作的最高環(huán)境溫度。
18.功率損耗
它是聚合物PTC可復(fù)位保險絲在動作后消耗的功率，它是流過熱敏電阻的漏電流和熱敏電阻兩端電壓的乘積。
19.高溫高濕老化
在室溫下，測量聚合物PTC可復(fù)位保險絲在較高溫度（如150°C）和高濕度（如85%濕度）下長時間（如85小時）前后的電阻變化。
20. 被動老化測試
在室溫下，長時間（如70小時）測量聚合物PTC可復(fù)位保險絲在較高溫度（如85°C或1000°C）之前和之后的電阻變化。
21.冷熱沖擊試驗
在室溫下，測試結(jié)果為聚合物PTC可復(fù)位保險絲在溫度循環(huán)前后的電阻值。（例如，在 -10°C 和 +55°C 之間循環(huán) 125 次）。
22.PTC 強度β
PTC熱敏電阻具有足夠的PTC強度，不能顯示NTC現(xiàn)象。β=lg R140°C/R 室溫≥5 R140°C，這是 140°C 和室溫下的額定零功率電阻值。
23.恢復(fù)時間
24.故障模式測試
在失效模式測試期間，高分子PTC熱敏電阻可能在測試后處于失效狀態(tài)。允許的失效模式為開路或高電阻狀態(tài)，但在整個測試過程中不得有低電阻狀態(tài)或明火。
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